MarSurf XCR 20 描述
新一代的轮廓度和粗糙度测量系统. MarSurf XCR 20 完美的轮廓度和粗糙度评定系统. 粗糙度和轮廓度评定软件有独立的操作界面. MarSurf XCR 20Mahr的顶级表面测量系统,时代粗糙度测量仪,能实现半自动操作过程如测量立柱定位(ST 750 CNC) 方便简单.
MarSurf XC 20 特点
MarSurf XC 20 为 Mahr的顶级轮廓测量仪. 本系统为您提供了最佳性能表现的理想测量仪器. MarSurf XC 20 控制驱动器单元 PCV 和测量立柱 ST 500 或 ST 750.
MarSurf 测量工作站为杰出测量机构与专利测量技术的完美结合.
MarSurf XC 20 评定软件
密码保护用户登录设置
可设置不同用户权限
能进行名义轮廓与实际轮廓对比
通过创建评定区域实现名义轮廓与实际轮廓对比
通过区域创建功能,日本三丰粗糙度仪价格,能实现多种结果数据组分析功能
监控公差带和支持多种公差带分析
导入轮廓数据,如. DXF 文件
自动程序运行
高性能软件用于测量与评定测量轮廓
PCV 200 驱动单元
Special features of the PCV 200 drive unit PCV 200 驱动单元的特点
MarSurf XC 20 应用
适用于各行各业,深圳粗糙度仪,如:
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